高效的验证平台案例-幅相多功能芯片CP
此案例主要针对高频5G毫米波领域的测试解决方案。涵盖PA,LNA,移相器，调幅器等各个射频电路模块的性能指标测试
具体测试用例
OS:
▪ OS_PS
▪ OS
DC:
▪ DC_IDD
RF S-Parameter:
▪ RF_SPARA_增益
▪ RF_SPARA_驻波系数
▪ RF_SPARA_P1DB
▪ …
RF IMD:
▪ RF_OIP3
▪ RF_IIP3
Noise:
▪ LNA_Noise factor
function:
▪ PA_LNA_数控移相
▪ PA_LNA_移相精度
▪ PA_LNA_衰减精度
▪ PA_幅度一致性
模块化解决方案
采用PXI架构，内部集成多通道网络分析仪板卡，电源SMU模块板卡，控制IO板卡，信号源，频谱分析仪以及示波器等，可以根据测试需求进行扩展。能够在一个机箱内集成大部分的直流，交流以及射频测试功能。
探针台带有全自动上片单元，可以方便实现一个晶舟共25片晶圆全自动上下片，高效便捷，碎片风险低。
